TU Berlin

Physikalische Chemie / Molekulare MaterialwissenschaftenAFM

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AFM Rasterkraftmikroskop

AFM  Rasterkraftmikroskop
AFM Rasterkraftmikroskop
Lupe

Das Colloidal Probe AFM ermöglicht es Kräfte zwischen nahezu allen erdenklichen Oberflächen mit einer Auflösung im pN Bereich zu messen. Bei dieser Methode wird ein µm großes Partikel (colloidal probe) an einem Cantilever angebracht und mit Hilfe eines Piezoelements auf eine Oberfläche gedrückt sowie zurückgezogen. Wechselwirkungen zwischen dem Partikel und der Oberfläche resultieren in einer Verbiegung des Cantilevers, welche mit einem Laser gemessen wird und in eine wirkende Kraft umgerechnet werden kann.

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